Naprava za kartiranje električnega polja LEEM-3

Kratek opis:

V inženirski tehnologiji je pogosto potrebno poznati porazdelitev električnega polja elektrodnega sistema, da bi preučili zakon gibanja elektronov ali nabitih delcev v električnem polju. Na primer, za preučevanje fokusiranja in odklona elektronskega žarka v osciloskopski cevi je potrebno poznati porazdelitev električnega polja elektrode v osciloskopski cevi. V elektronski cevi moramo preučiti vpliv uvedbe novih elektrod na gibanje elektronov, prav tako pa moramo poznati porazdelitev električnega polja. Na splošno lahko za ugotavljanje porazdelitve električnega polja uporabimo analitično metodo in metodo simulacijskega eksperimenta. Vendar pa je porazdelitev električnega polja mogoče dobiti z analitično metodo le v nekaj preprostih primerih. Za splošni ali kompleksni elektrodni sistem se običajno določi s simulacijskim eksperimentom. Slabost metode simulacijskega eksperimenta je, da natančnost ni visoka, vendar lahko za splošno inženirsko zasnovo izpolni zahteve.